Các phương pháp quang trắc Phép_quang_trắc

Mô hình dữ liệu của Georg Wiora về phép quang trắc.[1]

Phép quang trắc dùng các phương pháp từ nhiều môn học gồm quang học và hình học xạ ảnh. Mô hình dữ liệu ở bên phải cho thấy loại thông tin gì có thể đi vào và đi ra các phương pháp quang trắc.

Các tọa độ 3D định nghĩa các vị trí của các điểm của vật thể trong không gian 3D. Các tọa độ ảnh định nghĩa các vị trí của các ảnh của các điểm của vật thể trên phim hay một thiết bị tạo ảnh điện tử. Sự định hướng bên ngoài của một máy ảnh định nghĩa vị trí của nó trong không gian và hướng nhìn của nó. Sự định hướng bên trong định nghĩa các tham số hình học của quá trình xử lý tạo ảnh. Đây chủ yếu là tiêu cự của các thấu kính, nhưng cũng gồm sự mô tả của những sự méo/biến dạng của thấu kính. Các quan sát bổ sung thêm nữa đóng một vai trò quan trọng: Với các khung tỉ lệ, về cơ bản là một khoảng cách được biết của hai điểm trong không gian, hay các điểm cố định được biết, sự kết nối đến các đơn vị đo lường cơ bản được tạo ra.

Mỗi trong số bốn biến số chính có thể là một dữ liệu đầu vào hay một dữ liệu đầu ra của một phương pháp quang trắc học.

Quang trắc học đã được định nghĩa bởi American Society for Photogrammetry and Remote Sensing (ASPRS) như nghệ thuật, khoa học và công nghệcủa việc lấy thông tin đáng tin cậy về các vật thể vật lý và môi trường qua các quá trình/phương thức ghi nhận, đo và diễn dịch các ảnh chụp và các mẫu hình của năng lượng điện từ bức xạ được ghi nhận và các hiện tượng khác.[2]